НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ МЭИ

НАУЧНЫЙ ЦЕНТР ИЗНОСОСТОЙКОСТЬ


Исследование микроструктуры материала


  • сканирующего электронного микроскопа MIRA 3 LMU с катодом с полевой эмиссией (Tescan) с системой для исследования дифракции обратно отраженных электронов системы HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F+ (Oxford Instruments);
  • инвертированного микроскопа отраженного света Axiovert 25 CA (Carl Zeiss Mikroskopie);
  • портативного микроскопа МПМ-2У-КС (НПК «МИКРОКОН»).