НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ МЭИ

НАУЧНЫЙ ЦЕНТР ИЗНОСОСТОЙКОСТЬ


Исследование морфологии и шероховатости поверхности


Морфология

  • сканирующего электронного микроскопа MIRA 3 LMU с катодом с полевой эмиссией (Tescan);
  • инвертированного микроскопа отраженного света Axiovert 25 CA (Carl Zeiss Mikroskopie);
  • портативного микроскопа МПМ-2У-КС (НПК «МИКРОКОН»);
  • атомно-силового микроскопа Wide Scan AFM (Nanosurf AG).
  • механического профилометра Dektak 150 (Veeco Instruments Inc.) в режиме 3D-картирования.
 

Шероховатость

  • с использованием механического профилометра Dektak 150 (Veeco Instruments Inc.);
  • на крупногабаритных изделиях - с использованием портативного контактного профилометра Surftest SJ 210 (Mitutoyo) или TR-200 (TIME Group Inc.).
  • Портативный контактный профилометр Surftest SJ 210 (Mitutoyo)Портативный контактный профилометр TR-200