Определение толщины покрытий

по высоте протяженной ступеньки с использованием профилометра Dektak 150 (Veeco Instruments Inc.);
на поперечном шлифе с использованием электронного микроскопа MIRA 3 LMU (Tescan) или оптического микроскопа Axiovert 25 CA (Carl Zeiss Mikroskopie);

по шаровому шлифу с использованием системы шарового истирания Calotest (CSM Instruments);
магнитным или вихретоковым методом с использованием толщиномеров покрытий Константа К5 (ЗАО «Константа») или PosiTector 6000 (De-Felsko) (неразрушающий контроль покрытий).