Определение толщины упрочненного слоя

по изменению микроструктуры по глубине поверхностного слоя - на поперечном шлифе с использованием оптического микроскопа Axiovert 25 CA (Carl Zeiss Mikroskopie) и электронного микроскопа MIRA 3 LMU (Tescan);
по изменению твердости - на поперечном шлифе с использованием нанотвердомера NHT2-TTX (CSM Instruments), микротвердомера МНТ 10 (Anton Paar GmbH) или твердомера для малых нагрузок DuraScan 20 (Emco-Test);
по изменению состава - с использованием оптического эмиссионного спектрометра тлеющего разряда GD-Profiler 2 (HORIBA Jobin Yvon).