Металлография и трибология

Определение элементного состава материалов проводится с использованием:

• оптического эмиссионного спектрометра тлеющего разряда GD-Profiler 2 (HORIBA Jobin Yvon),
• оптического эмиссионного спектрометра PMI-Master UVR (Oxford Instruments),
• рентгенофлуоресцентного анализатора X-MET 7500 (Oxford Instruments),
• системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Inca Energy 350 с детектором X MAX 50 (Oxford Instruments).

Толщина покрытия определяется:

• по высоте протяженной ступеньки с использованием профилометра Dektak 150 (Veeco Instruments Inc.);
• на поперечном шлифе с использованием электронного микроскопа MIRA 3 LMU (Tescan) или оптического микроскопа Axiovert 25 CA (Carl Zeiss Mikroskopie);
• по шаровому шлифу с использованием системы шарового истирания Calotest (CSM Instruments);
• магнитным или вихретоковым методом с использованием толщиномеров покрытий Константа К5 (ЗАО «Константа») или PosiTector 6000 (De-Felsko) (неразрушающий контроль покрытий).

Толщина упрочненного слоя определяется:

• по изменению микроструктуры по глубине поверхностного слоя - на поперечном шлифе с использованием оптического микроскопа Axiovert 25 CA (Carl Zeiss Mikroskopie) и электронного микроскопа MIRA 3 LMU (Tescan);
• по изменению твердости - на поперечном шлифе с использованием нанотвердомера NHT2-TTX (CSM Instruments), микротвердомера МНТ 10 (Anton Paar GmbH) или твердомера для малых нагрузок DuraScan 20 (Emco-Test);
• по изменению состава - с использованием оптического эмиссионного спектрометра тлеющего разряда GD-Profiler 2 (HORIBA Jobin Yvon).

• сканирующего электронного микроскопа MIRA 3 LMU с катодом с полевой эмиссией (Tescan) с системой для исследования дифракции обратно отраженных электронов системы HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F+ (Oxford Instruments);
• инвертированного микроскопа отраженного света Axiovert 25 CA (Carl Zeiss Mikroskopie);
• портативного микроскопа МПМ-2У-КС (НПК «МИКРОКОН»).

Морфология

• сканирующего электронного микроскопа MIRA 3 LMU с катодом с полевой эмиссией (Tescan);
• инвертированного микроскопа отраженного света Axiovert 25 CA (Carl Zeiss Mikroskopie);
• портативного микроскопа МПМ-2У-КС (НПК «МИКРОКОН»);
• атомно-силового микроскопа Wide Scan AFM (Nanosurf AG);
• механического профилометра Dektak 150 (Veeco Instruments Inc.) в режиме 3D-картирования.

в макро диапазоне - с использованием универсального твердомера M4C (Emco-Test) по методам Бринелля, Виккерса, Роквелла и Супер-Роквелла или, в случае крупногабаритных изделий, с использованием переносного твердомера по Бринеллю ТБП 5013 (ОАО «Точприбор») и портативного комбинированного твердомера МЕТ–УДА (Центр "МЕТ");